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[전자회로test(실험) ] 증가형 MOSFET의 단자 특성(特性)과 바이어싱 결과

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작성일 23-02-09 16:16

본문

조교선생님께 물어본 결과 책에 있는 결과는 PSPICE의 결과이기 때문에 Orcad결과와는 다소 차이가 있을 수 있다고 들었다. 實驗(실험)에서는 VDS를 10V로 고정시키고VGS를 1,2,3,4,5,7,9,11로 가변시켜서 ID를 측정(measurement)하는 實驗(실험)과 ID - VDS property(특성) 측정(measurement)하는 實驗(실험)이었다.

2.實驗(실험) 결과 값

-파형-

-회로-

1) ID - VGS 특성(特性)
실험 .증가형 MOSFET의 단자 특성과 바이어싱 1.Orcad 결과 1) ID - VGS 특성 -회로- -파형-

순서
Orcad결과가 책에 있는 값들과는 다소 차이가 있었다.
레포트 > 자연과학계열
전자회로실험,증가형 MOSFET의 단자 특성,바이어싱 결과
설명

test(실험) .증가형 MOSFET의 단자 특성(特性)과 바이어싱

n-채널 MOSFET 의 ID - VGS property(특성) 측정(measurement)
MOSFET는 Metal - Oxide - silicon field - effect transistor(금속 -산화물 - 반도체 전라 접합 트랜지스터)로써, MOSFET는 특히 단일 실리콘에 제조되는 회로인 집적 회로의 설계에 가장 널리 사용되는 전자 소자이다.

[전자회로test(실험) ] 증가형 MOSFET의 단자 특성(特性)과 바이어싱 결과
1.Orcad 결과
다.

Download : [전자회로실험] 증가형 MOSFET의.hwp( 75 )

이번 實驗(실험)은 증가형 MOFET의 단자 property(특성)과 바이어싱에 관한 實驗(실험)이었다.

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